Conception d'une SRAM faible fuite

La plupart des recherches sur la consommation d'énergie des circuits se sont concentrées sur la puissance de commutation et la puissance dissipée par le courant de fuite a été un domaine relativement mineur. Cependant, dans le processus VLSI actuel, le courant sous le seuil devient l'un des principaux facteurs de la consommation d'énergie, en particulier dans les mémoires haut de gamme. Pour réduire la puissance de fuite dans la SRAM, la méthode de gestion de la puissance peut être appliquée et l'une des principales techniques de gestion de la puissance est l'utilisation de transistors de veille pour contrôler le courant de sous-seuil. Dans ce projet, des tensions de seuil doubles sont adoptées ; les cellules SRAM normales ont des tensions de seuil inférieures et les tensions de seuil supérieures contrôlent les transistors dormants. La taille des transistors dormants peut être choisie en fonction du courant le plus défavorable et est appliquée à chaque bloc.