bokomslag Einfhrung in die Statistik
Data & IT

Einfhrung in die Statistik

Jrgen Lehn Helmut Wegmann

Pocket

549:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 10-16 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 208 sidor
  • 2006
in die Statistik 5., durchgesehene Auflage Bibliografische Information Der Deutschen Bibliothek Die Deutsche Bibliothek verzeichnet diese Publikation in der Deutschen Nationalbibliografie; detaillierte bibliografische Daten sind im Internet ber abrufbar. Prof. Dr. rer. nat. Jrgen Lehn Geboren 1941 in Karlsruhe. Studium der Mathematik an den Universitten Karlsruhe und Regensburg. 1968 Diplom in Karlsruhe, 1972 Promotion in Regensburg, 1978 Habilitation in Karlsruhe. 1978 Professor an der Technischen Hochschule Darmstadt. Prof. Dr. rer. nat. Helmut Wegmann Geboren 1938 in Worms. Studium der Mathematik und Physik an den Universitten Mainz und Tbingen. Wiss. Assistent an den Universitten Mainz und Stuttgart. 1962 Staats- amen in Mainz, 1964 Promotion in Mainz, 1969 Habilitation in Stuttgart. 1970 Professor fr Mathematik an der Technischen Hochschule Darmstadt. 1. Auflage 1985 2. Auflage 1992 3. Auflage 2000 4. Auflage 2004 5., durchgesehene Auflage Juni 2006 Alle Rechte vorbehalten B.G.Teubner Verlag / GWV Fachverlage GmbH, Wiesbaden 2006 Lektorat: Ulrich Sandten / Kerstin Hoffmann Der B. G. Teubner Verlag ist ein Unternehmen von Springer Science+Business Media. www.teubner.de Das Werk einschlielich aller seiner Teile ist urheberrechtlich geschtzt. Jede Verwertung auerhalb der engen Grenzen des Urheberrech- gesetzes ist ohne Zustimmung des Verlags unzulssig und strafbar. Das gilt insbesondere fr Vervielfltigungen, bersetzungen, Mikroverfilmungen und die Einspeicherung und Verarbeitung in elektronischen Systemen.
  • Författare: Jrgen Lehn, Helmut Wegmann
  • Illustratör: 59 Schwarz-Weiß-Abbildungen
  • Format: Pocket/Paperback
  • ISBN: 9783835100046
  • Språk: Tyska
  • Antal sidor: 208
  • Utgivningsdatum: 2006-06-01
  • Förlag: Springer Vieweg