Emisje optyczne z produktw natryskiwania metali Ni, Cr, Ti

Prace te s prowadzone przez zespó SIAM (Spectroscopy and Atomic Imaging of Materials) na Uniwersytecie Cadi Ayyad. Polegaj one na wykorzystaniu techniki SIPS do badania luminescencji próbek Ni, Cr, Ti oraz tlenków NiO i Cr2O3. Cele s bombardowane jonami Kr+ o energii 5 keV pod ktem 65° do normalnej, a badany zakres widmowy rozciga si od bliskiego UV do widzialnego. Przeprowadzone przez nas badania mona podsumowä w nastpujcy sposób: * Demonstracja emisji optycznej z produktów rozpylania trzech metali: niklu, chromu i tytanu oraz ich tlenków, bombardowanych w próni (lepszej ni 10-7 torr). * Interpretacja wpywu tlenu na widma luminescencji. * Badanie i zastosowanie modelu wymiany elektronów. Oszacowanie powinowactwa elektronowego i przerwy pasmowej tlenków.