Kamerabasierte In-situ-UEberwachung gepulster Laserschweissprozesse

Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten berwachungssystems fr gepulste Laserschweiprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-berwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberflche.