Konstruktion, Bau und Charakterisierung eines Magnet-Proben-Halters fur das Elektronen-Mikroskop

Diplomarbeit aus dem Jahr 2001 im Fachbereich Physik - Technische Physik, Note: 1,3, Universitt Regensburg (unbekannt, Experimentelle und Angewandte Physik), Sprache: Deutsch, Abstract: Inhaltsangabe:Einleitung:
Die Lorentzmikroskopie stellt ein mchtiges Instrument in der Untersuchung magnetischer Strukturen im Transmissionselektronenmikroskop (TEM) dar. Um Reaktionen magnetischer Nano-Partikel auf externe Felder (Schaltvorgnge) in-situ beobachten zu knnen, wurde im Rahmen dieser Arbeit ein Spezial-Probenhalter entwickelt. Mit dessen Hilfe knnen Proben whrend der Beobachtung reinen in-plane Magnetfeldern im TEM unterzogen werden und so direkte Reaktionen beobachtet werden.
Gang der Untersuchung:
In der Arbeit wird zuerst eine Einfhrung ber die Funktionsweise eines Elektronenmikroskops gegeben. Anschlieend folgt ein kurzer Ausblick auf die relevante Theorie des Magnetismus. Im zweiten Kapitel wird eine herkmmliche Methode zur Erzeugung von Magnetfeldern im TEM charakterisiert. Danach folgt die Beschreibung von der Herstellung und Charakterisierung des neuen Probenhalters. Zum Schlu sind noch erste interessante Experimente erlutert, die die Mglichkeiten des neuen Halters eindrucksvoll prsentieren.


Inhaltsverzeichnis:Inhaltsverzeichnis:
Problemstellung7
1.Allgemeine theoretische Grundlagen11
1.1Elektronenoptik11
1.1.1Strahlerzeugung11
1.1.2Strahlengang12
1.1.3Lorentzmikroskopie15
1.1.4Linsenfehler18
1.1.5Stigmatoren23
1.2Magnetismus von Permalloy-Nanoteilchen23
1.2.1Energie-Betrachtungen23
1.2.2Formanisotropie und Stoner-Wohlfarth-Theorie25
1.2.3Domnen29
1.2.4Hysterese31
2.Kippmethode33
2.1Vermessung der magnetischen Felder im Mikroskop33
2.1.1Kalibrierung des Hallsensors34
2.1.2Messung der Objektivlinsenfelder35
3.Konstruktion und Bau des Probenhalters39
3.1Vorberlegungen39
3.2Konstruktion und Entwicklung40
3.3Herstellung41
4.Charakterisierung des neuen Halters45
4.1Feldmessung45
4.1.1Kalibrierung des Hallsensors45
4.1.2Feldmessung im Probenbereich46