La Diffraction Coh rente Des Rayons X

La diffraction cohrente des rayons X est une technique relativement rcente, qui permet de raliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matire dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l'espace rel l'aide d'algorithmes bass sur des calculs de transforme de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut tre applique l'tude de dfauts de phase isols tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent tre reconstruits sans algorithme. Il apparat que la technique peut en principe surpasser en rsolution la topograhie X, technique de choix pour les tudes de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi t images. Nous montrons galement que de relles conclusions physiques peuvent tre tires, travers l'tude de dfauts de phase de structures lectroniques dans des systmes dveloppant des ondes de densit de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdne K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systmes tudis dans ce travail. Un certain nombre de questions lies la structure statique et dynamique de ces cristaux lectroniques sont souleves, et des modles thoriques sont proposs.