bokomslag Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Vetenskap & teknik

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Kenneth P Rodbell William F Filter Harold J Frost Paul S Ho

519:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 7-12 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 2014
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
  • Författare: Kenneth P Rodbell, William F Filter, Harold J Frost, Paul S Ho
  • Format: Trade paperback
  • ISBN: 9781107409484
  • Språk: Engelska
  • Utgivningsdatum: 2014-06-05
  • Förlag: Cambridge University Press