Nanomecanique par microscopie a force atomique en mode contact vibrant

La microscopie a force atomique (AFM) en mode contact vibrant est sensible aux proprits lastiques des matriaux. L'objectif de ce travail est d'obtenir des informations quantitatives (les modules lastiques) partir des images AFM. La partie thorique consiste en une mise en quation de la mcanique du levier et en l'tude des dformations lastiques du systme pointe-chantillon. D'un point de vue exprimental, la russite de notre approche provient de l'excitation des leviers par une force lectrostatique, et d'un talonnage de la frquence de rsonance sur des matriaux aux proprits connues. Nous avons appliqu les mthodes prcdentes pour mesurer l'lasticit des constituants sub-microscopiques de la paroi cellulaire du bois. Par un traitement mathmatique des images AFM obtenues une frquence unique, nous avons dvelopp une mthode qui donne directement des images de l'lasticit absolue et des pertes visqueuses.