Samhälle & debatt
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Oberflachenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs
Frank Schroeder-Oeynhausen
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Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es mglich macht, Oberflchenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.
- Illustratör: Grafiken und Tabellen Mit Abbildungen
- Format: Pocket/Paperback
- ISBN: 9783824420919
- Språk: Tyska
- Antal sidor: 138
- Utgivningsdatum: 1997-09-01
- Förlag: Deutscher Universitatsverlag