Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Ergnzend zu Vorlesung, zu Rechenbungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewhlter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Fr Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurck gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgefhrt fr Schaltdiode, Kapazittsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstrker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschlieende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dnnschicht-Silizium-Solarzellen.