Qualification Des Composants Mos Pour l''environnement Radiatif Spatial

La mise en place des premires constellations de satellites pour les tlcommunications et la tendance gnrale utiliser des composants commerciaux pose le problme de la vulnrabilit et de la dure de vie des composants de type MOS l'effet de dose. Lors de ces missions, l'utilisation gnralise de composants commerciaux passe par une slection qui doit faire l'objet d'une attention toute particulire. Le travail prsent ici concerne la mise en place d'une mthodologie de tri de ces composants qui s'appuie sur la relaxation thermique des charges piges dans le volume de l'oxyde. Aprs avoir prsent les phnomnes physiques l'origine des dgradations induites par les rayonnements ionisants dans les isolants, nous donnons les bases d'une mthode de qualification des composants qui prend en compte les spcificits de l'oxyde et les paramtres de la mission. Le domaine de validit de la mthode et les prcautions prendre lors de l'interprtation des rsultats sont ensuite analyss. Dans la dernire partie, nous avons abord l'influence du champ lectrique sur les processus qui rgissent le comportement des composants irradis.