bokomslag Reliability and Degradation of III-V Optical Devices
Vetenskap & teknik

Reliability and Degradation of III-V Optical Devices

Osamu Ueda

Inbunden

2649:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 7-12 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 372 sidor
  • 1996
Focusing on helping researchers and engineers involved in III-V compound semiconductor thin film growth and processing, this text shows the mechanism of degradation, detailing the major degradation modes of optical devices fabricated from three different systems, and describing methods for elimination of defect-generating mechanisms.
  • Författare: Osamu Ueda
  • Format: Inbunden
  • ISBN: 9780890066522
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 372
  • Utgivningsdatum: 1996-09-01
  • Förlag: Artech House Publishers