bokomslag Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Konst & kultur

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

A Benninghoven C A Jr Evans R A Powell R Shimizu H A Storms

Pocket

1539:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 7-12 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 300 sidor
  • 2011
This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields.
  • Författare: A Benninghoven, C A Jr Evans, R A Powell, R Shimizu, H A Storms
  • Format: Pocket/Paperback
  • ISBN: 9783642618734
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 300
  • Utgivningsdatum: 2011-12-13
  • Förlag: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K