Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen

Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga bensteIlung gilt gleichermaen fr diskret aufgebaute Logik wie fr integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlsse bei greren integrierten Schaltungen fast zwangslufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu bercksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test hufig nicht oder nur mit greren Schwierigkeiten durchzufhren ist. Das liegt an der "Zugnglichkeit" integrierter Schal tungen, die durch die Anzahl externer Anschlsse beschrnkt ist. Aus diesen und anderen Grnden ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit berlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange ordnet, d.h. da die logische Ebene den Ausgangspunkt fr die Testvorbereitung und die Testdurchfhrung darstellt. Es gibt darber hinaus heute auch Anstze, die von hierar chisch hheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das fr die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch fr den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexitt der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, da man hierarchische Methoden fr deren Prfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung.