Vetenskap & teknik
VLSI Test Principles and Architectures
Laung-Terng Wang • Cheng-Wen Wu • Xiaoqing Wen
Inbunden
1089:-
Uppskattad leveranstid 10-16 arbetsdagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.
- Format: Inbunden
- ISBN: 9780123705976
- Språk: Engelska
- Utgivningsdatum: 2006-08-14
- Förlag: Elsevier Science & Technology