bokomslag VLSI Test Principles and Architectures
Vetenskap & teknik

VLSI Test Principles and Architectures

Laung-Terng Wang Cheng-Wen Wu Xiaoqing Wen

Inbunden

1089:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 10-16 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 2006
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.
  • Författare: Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
  • Format: Inbunden
  • ISBN: 9780123705976
  • Språk: Engelska
  • Utgivningsdatum: 2006-08-14
  • Förlag: Elsevier Science & Technology