Vetenskap & teknik
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Günther~ Von Bünau
Häftad
719:-
Uppskattad leveranstid 10-16 arbetsdagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-
- Format: Häftad
- ISBN: 9783531030494
- Språk: Tyska
- Antal sidor: 28
- Utgivningsdatum: 1981-01-01
- Förlag: Vs Verlag Fur Sozialwissenschaften