bokomslag Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Vetenskap & teknik

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

David C Cox

Inbunden

1939:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 3-8 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

Andra format:

  • 2015
  • Författare: David C Cox
  • Format: Inbunden
  • ISBN: 9781643278469
  • Språk: Engelska
  • Utgivningsdatum: 2015-10-30
  • Förlag: Morgan & Claypool Publishers