Hoppa till sidans huvudinnehåll

Investigation of Gate Current In Neutron Irradiated AlxGa1-xN/GaN Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence

Häftad, Engelska, 2012

AvThomas E Gray,Thomas E. Gray

229 kr

Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.


Produktinformation

  • Utgivningsdatum2012-11-16
  • Mått156 x 234 x 7 mm
  • Vikt186 g
  • FormatHäftad
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor126
  • FörlagBiblioBazaar, LLC
  • ISBN9781288308347

Tillhör följande kategorier