Investigation of Gate Current In Neutron Irradiated AlxGa1-xN/GaN Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence
Häftad, Engelska, 2012
239 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Produktinformation
- Utgivningsdatum2012-11-16
- Mått156 x 234 x 7 mm
- Vikt186 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- Antal sidor126
- FörlagBiblioBazaar, LLC
- ISBN9781288308347
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan