Investigation of Gate Current In Neutron Irradiated AlxGa1-xN/GaN Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence
Häftad, Engelska, 2012
239 kr
Slutsåld
Produktinformation
- Utgivningsdatum2012-11-16
- Mått189 x 246 x 7 mm
- Vikt240 g
- SpråkEngelska
- Antal sidor128
- FörlagBiblioBazaar, LLC
- EAN9781288308347
Hoppa över listan