Microscopie Force Atomique Dynamique

Depuis la premire image en rsolution atomique par microscopie force atomique (AFM), les avances de cette technique de champ proche permettent aujourd'hui de manipuler des atomes temprature ambiante sur des surfaces conductrices ou isolantes. La comprhension du fonctionnement de cette machine complexe et l'optimisation des rglages des nombreux asservissements est un des objectifs de cet ouvrage. A cette fin, un formalisme analytique provenant des mthodes de l'Automatique non-linaire sera introduit pour traiter de faon intuitive les blocs de rgulation de la machine mais aussi pour traiter l'interaction pointe-surface comme une fonction de transfert. Puis, le rle capital de la pointe et sa caractrisation seront traits travers une mthode exprimentale simple et originale. Cette mthode se base sur l'tude des changements non-linaires des proprits de rsonance de la sonde. Les forces conservatives lectrostatiques et van der Waals seront quantifies. Les forces chimiques seront mises en vidence en mesurant la dissipation de la sonde interagissant avec la surface. Des perspectives seront donnes pour amliorer la stabilit et le pouvoir de rsolution en AFM.