Modellierung der katastrophalen optischen Degradation von Hochleistungslaserdioden unter externer optischer Rückkopplung

Die Rückreflex-induzierte katastrophale optische Degradation (COD) von Hochleistungslaserdioden stellt eine wesentliche Limitierung aktueller Lasersysteme in der Materialbearbeitung dar. In der vorliegenden Arbeit wird ein multiphysikalisches Modell einer Laserdiode entwickelt und anhand experimenteller Daten validiert, mit dem dieser Degradationsprozess abgebildet werden kann. Mithilfe des Modells werden verschiedene Ansätze zum Design Rückreflex-resistenter Laserdioden analysiert.