Probabilistische Verfahren fr den Test hochintegrierter Schaltungen

Die Arbeit behandelt den Selbsttext hochintegrierter digitaler Schaltungen mit zufllig erzeugten Mustern. Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzuschtzen, mit der ein Fehler durch ein zufllig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen. Beim konventionellen Zufallstest bentigen viele Schaltungen unwirtschaftlich groe Mustermengen. Um dieses Problem zu lsen, wird eine Methode vorgeschlagen, fr Zufallsmuster solche optimalen Verteilungen zu bestimmen, die eine besonders hohe Fehlererfassung erwarten lassen. In vielen Fllen kann so die ntige Musterzahl um mehrere Grenordnungen gesenkt werden. Zur Ausfhrung eines einfachen Selbsttests wird ein Modul vorgestellt, der auf dem Chip integriert werden kann und im Testmodus die Muster mit den geforderten Verteilungen erzeugt. Der Mehraufwand an Schaltelementen fr den Selbsttest mit optimierten Zufallsmustern ist mit dem herkmmlichen Zufallstest vergleichbar. Aufgrund der behandelten Verfahren kann daher die Klasse der Schaltungen vergrert werden, die mit Zufallsmustern selbsttestbar sind, ohne da signifikante Mehrkosten anfallen.