Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexitt

Das Buch behandelt die beiden wichtigsten Aufgabenstellungen im Rahmen des wirtschaftlich und wissenschaftlich uerst bedeutenden Gebietes der Testvorbereitung: die automatische Testmustergenerierung und die Fehlersimulation. Alle im Buch beschriebenen Methoden und Verfahren zielen zum einen auf die Minimierung des dazu erforderlichen Rechenzeitaufwandes und zum anderen auf die Bewltigung mglichst groer Schaltungskomplexitten. Besonderer Wert wurde auf eine przise, formal konsistente und illustrative Beschreibung und auf eine mglichst vollstndige Aufbereitung der einschlgigen Literatur und somit des Standes der Technik gelegt. Das Buch enthlt eine Flle neuer Methoden, die eine wesentliche Beschleunigung von Testmustergenerierungs- und Fehlersimulationsverfahren ermglichen, und dokumentiert den mit diesen Methoden erzielten Fortschritt anhand einer Reihe von vergleichenden Untersuchungen. Auerdem wird mit SOCRATES das derzeit leistungsfhigste der aus der Literatur bekannten Testmustergenerierungssysteme detailliert vorgestellt. Neben der Hilfestellung bei Implementierungsaufgaben gibt das Buch eine detaillierte Darstellung der Problematik des Testens integrierter Schaltungen und speziell der Prinzipien der automatischen Testmustergenerierung und der schnellen Fehlersimulation. Darber hinaus kann es als Richtschnur fr Spezialvorlesungen nach dem Vordiplom (Elektrotechnik und Informatik) dienen sowie als Ansatz- und Ausgangspunkt fr Forschungsaktivitten auf verwandten Forschungsgebieten.