Textures Et Propri t s de Films Et Massifs Du Syst me Y-Ba-Cu-O

Ce travail traite de l'analyse de texture cristallographique de cramiques et de couches minces du compos YBa2Cu3O7 et de l'effet de cette texture sur les proprits supraconductrices, principalement la densit de courant critique Jc. La diffraction des rayons X a surtout t utilise, complte pour certains chantillons par la diffraction de neutrons. Dans le cas de l'utilisation des rayons X, les corrections de dfocalisation indispensables l'analyse quantitative des orientations prfrentielles dans des couches minces et des multicouches ont t dveloppes. Les chantillons massifs les plus texturs ont t labors par des techniques drives du Melt Textured Growth. L'importance de la texture sur Jc dans ces chantillons est clairement mise en vidence. Pour les couches minces htro-pitaxies, l'utilisation de diffrents substrats va en dfaveur de MgO, notamment cause d'interfaces perturbes. Jc est relie quantitativement au degr de texture des films. La prsence en volume de faibles orientations secondaires (dont un modle de quantification est dcrit) diminue de faon importante Jc.