Zuverlssige Bauelemente fr elektronische Systeme

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlssigkeit sind ergnzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhlt der Leser przise, praxisnah und umfassend smtliche Zuverlssigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik ber die Prffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualittsberwachung.